I'm looking for
product
Any
AFM Standard
AFM Special
SNOM
HOPG
Calibration
TERS
in a size
size
Any
Set of 5 probes, size 2um
Set of 5 probes, size 3,5um
Set of 5 probes, size 6,5um
Set of 5 probes, size 10um
Set of 5 probes, size 15um
Set of 7 items
Set of 10 items
Set of 15 items
Set of 30 items
Set of 50 items
Set of 100 items
. Show me the
&
items.
Super Search
PRODUCTS
NTEGRA ACADEMIA
NTEGRA AURA
NTEGRA MFM
NTEGRA SNOM
NTEGRA SPECTRA
NTEGRA PRIMA
NTEGRA THZ
ABOUT US
DOCUMENTS
CONTACT US
AFM PROBES SHOP
AFM Special
AFM Standard
Calibration
HOPG
SNOM
TERS
Contact us on +31 641 494682
Login
€
0,00
(0)
0 items in the shopping bag
Unfortunately, your shopping bag is empty.
Go to the shop
PRODUCTS
NTEGRA ACADEMIA
NTEGRA AURA
NTEGRA MFM
NTEGRA SNOM
NTEGRA SPECTRA
NTEGRA PRIMA
NTEGRA THZ
ABOUT US
DOCUMENTS
CONTACT US
AFM PROBES SHOP
AFM Special
AFM Standard
Calibration
HOPG
SNOM
TERS
Documents
Home
>
Documents
CERTIFICATES
2019661710
HYBRID 3.0. (HD mode)
2019664132
ScanTronic (программный модуль Hybrid 3.0)
2019664131
Nova Px (версия 4.0 - Nova SMP)
2019661709
NOVA SMP
OUR PATENTS
Патент 2227333
Сканирующий зондовый микроскоп с системой автоматического слежения за кантилевером
Патент 2244332
Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом
Патент 2329465
Способ измерения рельефа поверхности объекта с использованием сканирующего зондового микроскопа
Патент 2428655
Способ ускорения изменения рельефа поверхности для сканирующего зондового микроскопа
Патент 2428700
Блок управления для сканирующих зондовых микроскопов
Патент 2472106
Емкостной датчик для измерения линейных перемещений
Патент 2481590
Способ изготовления коллоидного зондового датчика для атомно-силового микроскопа
Патент 2538412
Сканирующий зондоый микроскоп с устройством для функционирования многозондового датчика
Патент 2592048
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Патент 2731164
Зонд ближнепольного оптического микроскопа
ASK
YOUR
QUESTION: